Works citing this work

1 works

Work: Сравнительное исследование фотоэлементов на основе кремния, легированного никелем различными методами

1. Composition of silicon jointly doped with impurity atoms of gallium and phosphorus

   Н. Ф. Зикриллаев, S. Koveshnikov, X. S. Turekeev +1

   ArticleSilicon and Solar Cell TechnologiesПоверхность Рентгеновские синхротронные и нейтронные исследования20240 citations

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2024.article.007427