Перейти к основному содержанию
Akadem
Index
Экосистема
Продукты
AkademIndex
Научный поиск и навигация
AkademScholar
Метрики и научная аналитика
AkademID
скоро
Идентификатор автора и профили
Для разработчиков
AkademBase
Открытый API экосистемы
Найти
О проекте
Охват
Помощь
Русский
Русский
Светлая
Светлая
Русский
Русский
Найти
M.R. Bendilov
Работ: 1
Investigation of the transparent dielectric defect structure using the emission of multiply charged ions
R. Abdupataev
,
M.R. Bendilov
,
Kh.B. Bejsembaeva
+1
Статья
Integrated Circuits and Semiconductor Failure Analysis
1986
Цитирований: 1
ABI
ABI:AkademIndex/openalex/2026.other.285814