Перейти к основному содержанию
Akadem
Index
Экосистема
Продукты
AkademIndex
Научный поиск и навигация
AkademScholar
Метрики и научная аналитика
AkademID
скоро
Идентификатор автора и профили
Для разработчиков
AkademBase
Открытый API экосистемы
Найти
О проекте
Охват
Помощь
Русский
Русский
Светлая
Светлая
Русский
Русский
Найти
Kh.Sh. Daliev
Работ: 1
Capacitance transient spectroscopy of radiation defects on Si-SiO 2 interface of silicon mis-structures
Kh.Sh. Daliev
,
Sharifa B. Utamuradova
,
A.J. Akbarov
Статья
Silicon and Solar Cell Technologies
1999
Цитирований: 0
ABI
ABI:AkademIndex/openalex/1999.article.000271