Работы, на которые ссылается эта работа

Работ: 4

Работа: X-Ray Imaging and TEM Study of Micropipes Related to their Propagation through Porous SiC Layer/SiC Epilayer Interface

1. Micropipe evolution in silicon carbide

   M. Yu. Gutkin, A. G. Sheĭnerman, T. S. Argunova +5

   Статья2003Цитирований: 2

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.611744

2. Без названия

   ДругоеЦитирований: 1

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.611741

3. Без названия

   ДругоеЦитирований: 1

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.611742

4. Без названия

   ДругоеЦитирований: 1

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.611743