← Назад к работе
Работы, на которые ссылается эта работа
Работ: 7
Работа: Radiation Hard Devices Based on SiC
Deep Defect Centers in Silicon Carbide Monitored with Deep Level Transient Spectroscopy
T. Dalibor, Gerhard Pensl, H. Matsunami +4
Статья1997Цитирований: 5ABIEpitaxial silicon carbide charge particle detectors
F. Nava, P. Vanni, C. Lanzieri +1
Статья1999Цитирований: 3ABIDevelopment of a silicon carbide radiation detector
F.H. Ruddy, A.R. Dulloo, J.G. Seidel +2
Статья1998Цитирований: 3ABIEnergy dependence of electron damage and displacement threshold energy in 6H silicon carbide
A.L. Barry, B. Lehmann, Daniel Fritsch +1
Статья1991Цитирований: 2ABI