← Назад к работе
Работы, на которые ссылается эта работа
Работ: 10
Работа: Effect of different chemical treatments of surface on the height of Al-p-SiGe and Au-n-SiGe barriers
Surface barrier detectors using aluminum on n- and p-type silicon for α-spectroscopy
H. Rahab, A. Keffous, H. Menari +3
Статья2001Цитирований: 3ABIBarrier heights and silicide formation for Ni, Pd, and Pt on silicon
G. Ottaviani, K. N. Tu, J. W. Mayer
Статья1981Цитирований: 2ABIMetal–semiconductor junctions on <i>p</i>-type strained Si1−<i>x</i>Ge<i>x</i> layers
Omer Nur, M. Willander, Raşit Turan +2
Статья1996Цитирований: 2ABIFabrication and characterization of Au/n-Si photodiode with lithium as back-surface-field
A. Keffous, Marwa Zitouni, Y. Belkacem +2
Статья2002Цитирований: 2ABISputtered gold as an effective Schottky gate for strained Si∕SiGe nanostructures
G. D. Scott, M. Xiao, H. W. Jiang +2
Статья2007Цитирований: 2ABIModification of Al/Si interface and Schottky barrier height with chemical treatment
Zs. J. Horváth, M. Ádám, I.A. Szabó +2
Статья2002Цитирований: 2ABI