Перейти к основному содержанию
AkademIndex

Продукты

Для разработчиков

AkademBaseОткрытый API экосистемы
← Назад к работе

Работы, на которые ссылается эта работа

Работ: 15

Работа: Application of the surface ionization for the detection of secondary particles in the secondary-ion mass spectrometry (SIMS)

  1. Surface ionization of organic compounds and its applications

    У. Х. Расулев, É. Ya. Zandberg

    Статья1988Цитирований: 31
    ABI

  2. Surface-ionization methods and devices of indication and identification of nitrogen-containing base molecules

    У. Х. Расулев, У. Хасанов, V.V Palitcin

    СтатьяAnalytical Chemistry and ChromatographyJournal of Chromatography A2000Цитирований: 20
    ABI

  3. Features of polyatomic ion emission under sputtering of a silicon single crystal by Au− cluster ions

    Sh.Dj. Akhunov, С. Н. Морозов, У. Х. Расулев

    СтатьяIon-surface interactions and analysisNuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B Beam Interactions with Materials and Atoms2003Цитирований: 13
    ABI

  4. Thermal spikes observed during the tantalum sputtering by gold cluster ions

    С. Н. Морозов, У. Х. Расулев

    СтатьяIon-surface interactions and analysisTechnical Physics Letters2003Цитирований: 12
    ABI

  5. Comparative study of polyatomic secondary ion emission from silicon with <mml:math xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" altimg="si11.gif" overflow="scroll"><mml:mrow><mml:msubsup><mml:mrow><mml:mtext>Au</mml:mtext></mml:mrow><mml:mrow><mml:mi>m</mml:mi></mml:mrow><mml:mrow><mml:mo>-</mml:mo></mml:mrow></mml:msubsup></mml:mrow></mml:math>, <mml:math xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" altimg="si12.gif" overflow="scroll"><mml:mrow><mml:msubsup><mml:mrow><mml:mtext>Si</mml:mtext></mml:mrow><mml:mrow><mml:mi>m</mml:mi></mml:mrow><mml:mrow><mml:mo>-</mml:mo></mml:mrow></mml:msubsup></mml:mrow></mml:math> and <mml:math xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" altimg="si13.gif" overflow="scroll"><mml:mrow><mml:msubsup><mml:mrow><mml:mtext>C</mml:mtext></mml:mrow><mml:mrow><mml:mi>m</mml:mi></mml:mrow><mml:mrow><mml:mo>-</mml:mo></mml:mrow></mml:msubsup></mml:mrow></mml:math> projectiles

    С. Н. Морозов, У. Х. Расулев

    СтатьяIon-surface interactions and analysisNuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B Beam Interactions with Materials and Atoms2006Цитирований: 11
    ABI

  6. Non-additive effects in secondary-ion emission from V, Nb and Ta under gold-cluster bombardment

    С. Н. Морозов, У. Х. Расулев

    СтатьяIon-surface interactions and analysisApplied Surface Science2004Цитирований: 11
    ABI

  7. Emission of quasi-thermal ions from a solid bombarded by cluster ions

    С. Н. Морозов, У. Х. Расулев

    СтатьяIon-surface interactions and analysisTechnical Physics2009Цитирований: 7
    ABI

  8. Cluster impacts at keV and MeV energies: Secondary emission phenomena

    Y. Le Beyec

    Статья1998Цитирований: 7
    ABI

  9. Generation of large indium clusters by sputtering

    Christian Staudt, A. Wucher

    Статья2002Цитирований: 6
    ABI

  10. Enhanced secondary-ion emission under gold-cluster bombardment with energies from keV to MeV per atom

    Alain Brunelle, S. Della‐Negra, J. Depauw +5

    Статья2001Цитирований: 5
    ABI

  11. Application of atomic and molecular primary ions for TOF–SIMS analysis of additive containing polymer surfaces

    D. Stapel, A. Benninghoven

    Статья2001Цитирований: 5
    ABI

  12. Sputtering of indium using<mml:math xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" display="inline"><mml:msub><mml:mi mathvariant="normal">Au</mml:mi><mml:mi>m</mml:mi></mml:msub></mml:math>projectiles: Transition from linear cascade to spike regime

    A.V. Samartsev, A. Duvenbeck, A. Wucher

    Статья2005Цитирований: 4
    ABI

  13. Sputtering of indium using polyatomic projectiles

    A.V. Samartsev, A. Wucher

    Статья2004Цитирований: 2
    ABI

  14. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1
    ABI

  15. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1
    ABI