Перейти к основному содержанию
AkademIndex

Продукты

Для разработчиков

AkademBaseОткрытый API экосистемы
← Назад к работе

Работы, на которые ссылается эта работа

Работ: 11

Работа: The effect of atmospheric oxide thermodesorption on negative-ion atomic and cluster sputtering of silicon single crystal by cesium ions

  1. Diffusion and Electroluminescence Studies of Low Temperature Diffusion of Boron in 3C-SiC

    I. G. Atabaev, C. C. Tin, Б.Г. Атабаев +12

    Статья2008Цитирований: 8
    ABI

  2. Neutral and negative ion cluster emission during sputtering

    M.K. Abdullaeva, Б.Г. Атабаев, R. Dzabbarganov

    Статья1991Цитирований: 5
    ABI

  3. Энергетический порог атомарного и кластерного распыления некоторых элементов при бомбардировке ионами Cs, Rb, Na

    Р. Джаббарганов, Б. Г. Атабаев, З. А. Исаханов +1

    Статья2019Цитирований: 3
    ABI

  4. Энергетическая и температурная зависимость вторичной ионной эмиссии кластеров GaN/SiC при бомбардировке ионами цезия

    Б.Г. Атабаев, Р. Джаббарганов, М. Х. Ахмаджонова +1

    Статья2021Цитирований: 3
    ABI

  5. The reaction of atomic oxygen with Si(100) and Si(111)

    J. R. Engstrom, D. J. Bonser, Mark J. Nelson +1

    Статья1991Цитирований: 2
    ABI

  6. Thermal desorption of ultrathin silicon oxide layers on Si(111)

    Azam Iraji zad, Nima Taghavinia, Mohammad Mahdi Ahadian +1

    Статья2000Цитирований: 2
    ABI

  7. Void growth during thermal decomposition of silicon oxide layers studied by low-energy electron microscopy

    Hiroki Hibino, Masashi Uematsu, Yoshio Watanabe

    Статья2006Цитирований: 2
    ABI

  8. The mesoscopic and microscopic structural consequences from decomposition and desorption of ultrathin oxide layers on Si(100) studied by scanning tunneling microscopy

    Kevin E. Johnson, Perng-Horng Wu, Michael Sander +1

    Статья1993Цитирований: 2
    ABI

  9. Nanoscale<i>in situ</i>investigation of ultrathin silicon oxide thermal decomposition by high temperature scanning tunneling microscopy

    Kun Xue, Jianbin Xu, H.P. Ho

    Статья2007Цитирований: 2
    ABI

  10. Direct measurement of reaction kinetics for the decomposition of ultrathin oxide on Si(001) using scanning tunneling microscopy

    Kevin E. Johnson, Thomas Engel

    Статья1992Цитирований: 2
    ABI

  11. Chemical and kinetic insights into the Thermal Decomposition of an Oxide Layer on Si(111) from Millisecond Photoelectron Spectroscopy

    Jean‐Jacques Gallet, Mathieu G. Silly, Mario El Kazzi +3

    Статья2017Цитирований: 2
    ABI