Перейти к основному содержанию
AkademIndex

Продукты

Для разработчиков

AkademBaseОткрытый API экосистемы
← Назад к работе

Работы, на которые ссылается эта работа

Работ: 78

Работа: Exploring electron energy dependencies in the formation of surface charge on ZnO crystals

  1. Electron beam charging of insulators with surface layer and leakage currents

    N. Cornet, D. Goeuriot, C. Guerret-Piécourt +4

    Статья2008Цитирований: 4
    ABI
  2. Fast, Accurate Secondary-Electron Yield Measurements at Low Primary Energies

    Victor E. Henrich

    Статья1973Цитирований: 4
    ABI
  3. Inspecting the electronic structure and thermoelectric power factor of novel p-type half-Heuslers

    Shakeel Ahmad Khandy

    Статья2021Цитирований: 3
    ABI
  4. Controlling oxygen vacancies and properties of ZnO

    Xiaoming Li, Jizhong Song, Yanli Liu +1

    Статья2014Цитирований: 3
    ABI
  5. Investigating the Effects of Cosmic Rays on Space Electronics

    Stefan K. Höeffgen, Stefan Metzger, Michael Steffens

    Статья2020Цитирований: 3
    ABI
  6. Low-energy electron-induced reactions in condensed matter

    Christopher R. Arumainayagam, Hsiao-Lu Lee, Rachel B. Nelson +2

    Статья2009Цитирований: 2
    ABI
  7. Control of chemical reactions and synthesis by low-energy electrons

    Esther Böhler, Jonas Warneke, Petra Swiderek

    Обзорная статья2013Цитирований: 2
    ABI
  8. Work function, electron affinity and band bending of zinc oxide surfaces

    K. Jacobi, G. Zwicker, A. Gutmann

    Статья1984Цитирований: 2
    ABI
  9. Damage formation and annealing at low temperatures in ion implanted ZnO

    K. Lorenz, E. Alves, E. Wendler +3

    Статья2005Цитирований: 2
    ABI
  10. Displacement Thresholds in ZnO

    D. R. Locker, J. M. Meese

    Статья1972Цитирований: 2
    ABI
  11. Oxygen displacement energy in ZnO

    J. M. Meese, D. R. Locker

    Статья1972Цитирований: 2
    ABI
  12. Resist charging in electron-beam lithography

    Min Bai, D. S. Pickard, C. Tanasa +3

    Статья1998Цитирований: 2
    ABI