Работы, цитирующие эту работу

Работ: 1

1. Determination of the density of surface states at the semiconductor-insulator interface in a metal-insulator-semiconductor structure

   G. Gulyamov, N. Yu. Sharibaev

   СтатьяSurface and Thin Film PhenomenaSemiconductors2011Цитирований: 10

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.218240