Перейти к основному содержанию
AkademIndex

Продукты

Для разработчиков

AkademBaseОткрытый API экосистемы
← Назад к работе

Работы, на которые ссылается эта работа

Работ: 3

Работа: Study of the Distribution Profile for Nickel Implanted in Silicon and the Effect of Annealing on the Structure

  1. Dopant microassociation mechanisms in Si〈Mn〉 and Si〈Ni〉

    С. З. Зайнабидинов, K. N. Musaev, N. A. Turgunov +1

    Статья2012Цитирований: 6
    ABI
  2. Special Applications

    S. P. Murarka

    Глава1983Цитирований: 3
    ABI