Работы, цитирующие эту работу

Работ: 1

1. Defect Formation in MIS Structures Based on Silicon with an Impurity of Ytterbium

   Kh.S. Daliev, Sharifa B. Utamuradova, Jonibek J. Khamdamov +4

   СтатьяSemiconductor materials and interfacesEast European Journal of Physics2024Цитирований: 3

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2024.article.001723