Перейти к основному содержанию
Akadem
Index
Экосистема
Продукты
AkademIndex
Научный поиск и навигация
AkademScholar
Метрики и научная аналитика
AkademID
скоро
Идентификатор автора и профили
Для разработчиков
AkademBase
Открытый API экосистемы
Найти
О проекте
Охват
Помощь
Русский
Русский
Светлая
Светлая
Русский
Русский
Найти
← Назад к работе
Работы, цитирующие эту работу
Работ: 1
Investigation of Defect InP(001) Surface by Low Energy Ion Scаttering Spectroscopy
М. K. Kаrimov
,
F.O. Kuryozov
,
Sh.R. Sadullaev
+2
Статья
Integrated Circuits and Semiconductor Failure Analysis
Materials science forum
2022
Цитирований: 8
ABI
ABI:AkademIndex/openalex/2026.other.273069