Работы, цитирующие эту работу

Работ: 1

1. Analysis of profiles of atomic distribution over the depth of Si-Me free nanofilm systems

   Б. Е. Умирзаков, З. А. Исаханов, М. К. Рузибаева +2

   СтатьяSemiconductor materials and interfacesTechnical Physics2015Цитирований: 5

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.495098