Работы, цитирующие эту работу

Работ: 1

1. High-temperature high-dose implantation of N+ and Al+ ions in 6H-SiC

   R.A. Yankov, M. Voelskow, W. Kreissig +6

   СтатьяSilicon Carbide Semiconductor TechnologiesTechnical Physics Letters1997Цитирований: 0

   ABIABI:AkademIndex/openalex/1997.article.000097