Перейти к основному содержанию
Akadem
Index
Экосистема
Продукты
AkademIndex
Научный поиск и навигация
AkademScholar
Метрики и научная аналитика
AkademID
скоро
Идентификатор автора и профили
Для разработчиков
AkademBase
Открытый API экосистемы
Найти
О проекте
Охват
Помощь
Русский
Русский
Светлая
Светлая
Русский
Русский
Найти
← Назад к работе
Работы, цитирующие эту работу
Работ: 1
Estimation of the sizes of disordered surface regions of Cu and Ag thin films using the ion transmission method
З. А. Исаханов
,
Б. Е. Умирзаков
,
М. К. Рузибаева
+2
Статья
Copper Interconnects and Reliability
Journal of Surface Investigation X-ray Synchrotron and Neutron Techniques
2013
Цитирований: 0
ABI
ABI:AkademIndex/openalex/2013.article.000396