Работы, цитирующие эту работу

Работ: 1

1. High-resolution X-ray photoelectron spectroscopy and characteristic electron-energy loss spectroscopy of the electronic structure of phosphorus-implanted silicon and quantum dots of silicon dioxide with silicon impurities

   O. K. Kuvandikov, Э. У. Арзикулов, А. И. Ковалев +1

   СтатьяSilicon Nanostructures and PhotoluminescenceJournal of Communications Technology and Electronics2007Цитирований: 0

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2007.article.000343