← Назад к работе
Работы, цитирующие эту работу
Работ: 2
Работа: Void growth during thermal decomposition of silicon oxide layers studied by low-energy electron microscopy
The Effect of Atmospheric Oxide Thermodesorption on Negative-Ion Atomic and Cluster Sputtering of Silicon Single Crystal by Cesium Ions
Б.Г. Атабаев, R. Djabbarganov, A. S. Khalmatov +2
СтатьяIon-surface interactions and analysisJournal of Surface Investigation X-ray Synchrotron and Neutron Techniques2024Цитирований: 0ABIThe effect of atmospheric oxide thermodesorption on negative-ion atomic and cluster sputtering of silicon single crystal by cesium ions
Б.Г. Атабаев, R. Djabbarganov, A. S. Khalmatov +2
СтатьяIon-surface interactions and analysisПоверхность Рентгеновские синхротронные и нейтронные исследования2024Цитирований: 0ABI