Structural and Morphological Characterization of Al/Ti-Based Ohmic Contacts on p-Type 4H-SiC Annealed Under Various Conditions
Konstantin VassilevskiNewcastle UniversityKonstantinos ZekentesFoundation for Research and Technology-Hellas(FORTH)George KonstantinidisN. A. PapanicolaouNaval Research LaboratoryIrina P. NikitinaNewcastle UniversityA.I. BabaninIoffe Physicotechnical Institute RAS
ABI
Аннотация
Аннотация мавжуд эмас.
Мавзулар
Идентификаторлар
Иқтибослар ва манбалар
0 та иқтибос0 та фойдаланилган манба