Asosiy kontentga oʻtish
Maqola

The effect of thermal treatment on the charge-carrier lifetime in nickel-doped silicon

M. KarimovInstitute of Nuclear PhysicsA. O. KurbanovС. З. ЗайнабидиновA. K. KarakhodzhaevM. Ulugbek Uzbek National University, Uzbekistan
Russian Physics Journaljournal2006en

Ochiq kirish: yoʻq

ABI

Annotatsiya

Annotatsiya mavjud emas.

Mavzular

Identifikatorlar

Iqtiboslar va manbalar