Работы, на которые ссылается эта работа

Работ: 35

Работа: Sputtering of GaAs target under Bi+ cluster ions bombardment

1. Без названия

   ДругоеЦитирований: 1

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.415058

2. Без названия

   ДругоеЦитирований: 1

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.415060

3. Без названия

   ДругоеЦитирований: 1

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.415062

4. Без названия

   ДругоеЦитирований: 1

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.415065

5. Без названия

   ДругоеЦитирований: 1

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.415068

6. A surface‐ionization method of detection of a neutral component of indium sputtering under bombardment by cluster ions

   С. Н. Морозов, У. Х. Расулев

   СтатьяIon-surface interactions and analysisSurface and Interface Analysis2012Цитирований: 1

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.415073

7. Без названия

   ДругоеЦитирований: 1

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.415074

8. Без названия

   ДругоеЦитирований: 1

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.415075

9. Без названия

   ДругоеЦитирований: 1

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.415079

10. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1

    ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.415080