Работы, цитирующие эту работу

Работ: 1

Работа: Сравнительное исследование фотоэлементов на основе кремния, легированного никелем различными методами

1. Composition of silicon jointly doped with impurity atoms of gallium and phosphorus

   Н. Ф. Зикриллаев, S. Koveshnikov, X. S. Turekeev +1

   СтатьяSilicon and Solar Cell TechnologiesПоверхность Рентгеновские синхротронные и нейтронные исследования2024Цитирований: 0

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2024.article.007427