Работы, на которые ссылается эта работа

Работ: 4

Работа: Formation of Impurity Accumulations in Silicon Doped with Nickel and Copper

1. The Effect of Thermal Annealing on the Electrophysical Properties of Samples n-Si<Ni,Сu>

   N. A. Turgunov, Elmurod Kh. Berkinov, R.M. Turmanova

   СтатьяSilicon and Solar Cell TechnologiesEast European Journal of Physics2023Цитирований: 8

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.279528

2. Без названия

   ДругоеЦитирований: 1

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.762777

3. Без названия

   ДругоеЦитирований: 1

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.762778

4. Без названия

   ДругоеЦитирований: 1

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.762779