Работы, на которые ссылается эта работа

Работ: 26

Работа: Calcination temperature effects on the electrical properties of Ni0.6Cd0.4FeAl0.5Cu0.5O4

1. Composition and Structure of a Nanofilm Multilayer System of the SiO2/Si/CoSi2/Si(111) Type Obtained via Ion Implantation

   Y. S. Ergashov, Б. Е. Умирзаков

   СтатьяSemiconductor materials and interfacesJournal of Surface Investigation X-ray Synchrotron and Neutron Techniques2018Цитирований: 8

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.104964

2. Effect of implantation of Ba+ and Nb+ ions on the morphology, composition, and emission properties of Мо (111)

   Y. S. Ergashov, Б. Е. Умирзаков

   СтатьяAdvanced Chemical Physics StudiesJournal of Communications Technology and Electronics2017Цитирований: 5

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.104963

3. Structural, magnetic and dielectric studies on half-doped Nd0.5Ba0.5CoO3 perovskite

   Dinesh Kumar, Paramananda Jena, Akhilesh Kumar Singh

   Статья2020Цитирований: 3

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.517774

4. A REVIEW OF METAL OXIDE COMPOSITE ELECTRODE MATERIALS FOR ELECTROCHEMICAL CAPACITORS

   Mui Yen Ho, P. S. KHIEW, Dino Isa +3

   Обзорная статья2014Цитирований: 2

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.214273

5. Без названия

   ДругоеЦитирований: 1

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.793991

6. Без названия

   ДругоеЦитирований: 1

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.793992

7. Без названия

   ДругоеЦитирований: 1

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.793993

8. Без названия

   ДругоеЦитирований: 1

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.793994

9. Без названия

   ДругоеЦитирований: 1

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.793995

10. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1

    ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.793996

11. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1

    ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.793997

12. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1

    ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.793998

13. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1

    ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.793999

14. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1

    ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.794000

15. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1

    ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.794001

16. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1

    ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.794002

17. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1

    ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.794003

18. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1

    ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.794004

19. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1

    ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.794005

20. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1

    ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.794006

21. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1

    ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.794007

22. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1

    ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.794008

23. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1

    ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.794009

24. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1

    ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.794010

25. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1

    ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.794011