Перейти к основному содержанию
AkademIndex

Продукты

Для разработчиков

AkademBaseОткрытый API экосистемы
← Назад к работе

Работы, на которые ссылается эта работа

Работ: 18

Работа: Reflection z‐scan measurements of opaque semiconductor thin films

  1. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1117
    ABI

  2. Sensitive measurement of optical nonlinearities using a single beam

    Mansoor Sheik‐Bahae, A. A. Said, Tai‐Huei Wei +2

    Статья1990Цитирований: 100
    ABI

  3. Theoretical study on the closed-aperture Z-scan curves in the materials with nonlinear refraction and strong nonlinear absorption

    Xiaodong Li, Shengli Guo, Hui‐Tian Wang +1

    Статья2001Цитирований: 32
    ABI

  4. Investigation of nonlinear refraction and nonlinear absorption of semiconductor nanoparticle solutions prepared by laser ablation

    R. A. Ganeev, A.I. Ryasnyansky, R. I. Tugushev +1

    Статья2003Цитирований: 17
    ABI

  5. Dispersion of bound electron nonlinear refraction in solids

    Mansoor Sheik‐Bahae, D. C. Hutchings, David J. Hagan +1

    Статья1991Цитирований: 13
    ABI

  6. Optical nonlinearities and photo-excited carrier lifetime in CdS at 532 nm

    H.P Li, C. H. Kam, Yee Loy Lam +1

    Статья2001Цитирований: 12
    ABI

  7. Eclipsing Z-scan measurement of λ/10^4 wave-front distortion

    T. Xia, David J. Hagan, Mansoor Sheik‐Bahae +1

    Статья1994Цитирований: 11
    ABI

  8. Nonlinear refraction in CS2

    R. A. Ganeev, A.I. Ryasnyansky, M. Baba +5

    СтатьяNonlinear Optical Materials StudiesApplied Physics B2004Цитирований: 9
    ABI

  9. Measurement of nonlinear refractive index by time-resolved z-scan technique

    Tadashi Kawazoe, Hitoshi Kawaguchi, Jun Inoue +2

    Статья1999Цитирований: 9
    ABI

  10. Reflection <i>Z</i>-scan technique for measurements of optical properties of surfaces

    Д. В. Петров, Alex Sandro Gomes, Cid B. de Araújo

    Статья1994Цитирований: 9
    ABI

  11. Measurements of nondegenerate optical nonlinearity using a two-color single beam method

    H. Ma, Anderson S. L. Gomes, Cid B. de Araújo

    Статья1991Цитирований: 8
    ABI

  12. Measurement of refractive nonlinearities in GaAs above bandgap energy

    Marcelo Martinelli, Laércio Gomes, R. J. Horowicz

    Статья2000Цитирований: 7
    ABI

  13. Variations of nonlinear optical characteristics of C60 thin films at 532 nm

    R. A. Ganeev, A.I. Ryasnyansky, В. И. Редкоречев +3

    СтатьяNonlinear Optical Materials StudiesOptics Communications2003Цитирований: 6
    ABI

  14. Measurement of refractive-index change at a liquid–solid interface close to the critical angle

    M. Martinelli, Marcos Gugliotti, R. J. Horowicz

    Статья2000Цитирований: 5
    ABI

  15. Sensitivity-enhanced reflection Z-scan by oblique incidence of a polarized beam

    M. Martinelli, S. Bian, J. R. Leite +1

    Статья1998Цитирований: 5
    ABI

  16. Reflection of a Gaussian beam from a saturable absorber

    Д. В. Петров, Anderson S. L. Gomes, Cid B. de Araújo

    Статья1996Цитирований: 3
    ABI

  17. Optical properties of amorphous multilayers

    H. Hamanaka, Satoshi Konagai, K. Murayama +2

    Статья1996Цитирований: 3
    ABI

  18. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1
    ABI