Работы, цитирующие эту работу

Работ: 1

1. Secondary ion emission under the bombardment of Si by multiply charged Si q+ ions

   С. Н. Морозов

   СтатьяIon-surface interactions and analysisJournal of Surface Investigation X-ray Synchrotron and Neutron Techniques2012Цитирований: 2

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2012.article.000100