Работы, цитирующие эту работу

Работ: 5

Работа: Secondary ion emission from arachidic acid LB-layers under Ar+, Xe+, Ga+ and SF5+ primary ion bombardment

1. Features of polyatomic ion emission under sputtering of a silicon single crystal by Au− cluster ions

   Sh.Dj. Akhunov, С. Н. Морозов, У. Х. Расулев

   СтатьяIon-surface interactions and analysisNuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B Beam Interactions with Materials and Atoms2003Цитирований: 13

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.493020

2. Comparative study of polyatomic secondary ion emission from silicon with <mml:math xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" altimg="si11.gif" overflow="scroll"><mml:mrow><mml:msubsup><mml:mrow><mml:mtext>Au</mml:mtext></mml:mrow><mml:mrow><mml:mi>m</mml:mi></mml:mrow><mml:mrow><mml:mo>-</mml:mo></mml:mrow></mml:msubsup></mml:mrow></mml:math>, <mml:math xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" altimg="si12.gif" overflow="scroll"><mml:mrow><mml:msubsup><mml:mrow><mml:mtext>Si</mml:mtext></mml:mrow><mml:mrow><mml:mi>m</mml:mi></mml:mrow><mml:mrow><mml:mo>-</mml:mo></mml:mrow></mml:msubsup></mml:mrow></mml:math> and <mml:math xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" altimg="si13.gif" overflow="scroll"><mml:mrow><mml:msubsup><mml:mrow><mml:mtext>C</mml:mtext></mml:mrow><mml:mrow><mml:mi>m</mml:mi></mml:mrow><mml:mrow><mml:mo>-</mml:mo></mml:mrow></mml:msubsup></mml:mrow></mml:math> projectiles

   С. Н. Морозов, У. Х. Расулев

   СтатьяIon-surface interactions and analysisNuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B Beam Interactions with Materials and Atoms2006Цитирований: 11

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.413689

3. Non-additive effects in secondary-ion emission from V, Nb and Ta under gold-cluster bombardment

   С. Н. Морозов, У. Х. Расулев

   СтатьяIon-surface interactions and analysisApplied Surface Science2004Цитирований: 11

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.415067

4. On the Sputtering of Copper Phthalocyanine Molecules on a GaAs Substrate under Bombardment with Multiply Charged Ions

   Sh.Dj. Akhunov, У. Х. Расулев, Dilshadbek T. Usmanov

   СтатьяIon-surface interactions and analysisJournal of Surface Investigation X-ray Synchrotron and Neutron Techniques2021Цитирований: 3

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.415083

5. Cluster projectile ions used for the SIMS analysis of silicon

   Sh.Dj. Akhunov, С. Н. Морозов

   СтатьяIon-surface interactions and analysisJournal of Surface Investigation X-ray Synchrotron and Neutron Techniques2013Цитирований: 1

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2013.article.000207