Работы, цитирующие эту работу

Работ: 2

Работа: Teoriya raspyleniya

1. Synergetic approach to studying material sputtering under ion bombardment

   С. Е. Максимов, Б. Л. Оксенгендлер, N.Yu. Turaev

   СтатьяIon-surface interactions and analysisJournal of Surface Investigation X-ray Synchrotron and Neutron Techniques2013Цитирований: 8

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.424597

2. Cluster projectile ions used for the SIMS analysis of silicon

   Sh.Dj. Akhunov, С. Н. Морозов

   СтатьяIon-surface interactions and analysisJournal of Surface Investigation X-ray Synchrotron and Neutron Techniques2013Цитирований: 1

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2013.article.000207