Работы, цитирующие эту работу

Работ: 1

1. X-Ray Imaging and TEM Study of Micropipes Related to their Propagation through Porous SiC Layer/SiC Epilayer Interface

   T. S. Argunova, M. Yu. Gutkin, Jung Ho Je +5

   СтатьяSilicon Carbide Semiconductor TechnologiesMaterials science forum2004Цитирований: 0

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2004.article.000164