Работы, цитирующие эту работу

Работ: 1

1. Growth technique and structural properties of the higher manganese silicide films

   T. S. Kamilov, D.K. Kabilov, I.S. Samiev +3

   СтатьяSemiconductor materials and interfaces2005Цитирований: 1

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.609626