Работы, цитирующие эту работу

Работ: 1

1. Investigation of profiles of the distribution of ion-implanted Mn atoms using the rutherford back scattering method and the influence of thermal annealing on them

   Б. Э. Эгамбердиев, Б.Ч. Холлиев, A. S. Mallaev

   СтатьяIon-surface interactions and analysisSurface Engineering and Applied Electrochemistry2007Цитирований: 0

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2007.article.000375