Capacitance transient spectroscopy of radiation defects on the interface Si-SiO 2 of silcon MIS-structures
Shakhrukh Kh. DalievSharifa B. UtamuradovaKh.S. DalievNational University of Uzbekistan, TAshkent, Uzbekistan
2004en
ABI
Аннотация
Аннотация мавжуд эмас.
Мавзулар
Иқтибослар ва манбалар
0 та иқтибос0 та фойдаланилган манба
Кўрсаткичлар — AkademScholar · Тез орада