The effect of thermal treatment on the charge-carrier lifetime in nickel-doped silicon
M. KаrimovInstitute of Nuclear Physics of the Academy of Sciences of Republic Uzbekistan, UzbekistanA. O. KurbanovС. З. ЗайнабидиновA. K. KarakhodzhaevM. Ulugbek Uzbek National University, Uzbekistan
ABI
Аннотация
Аннотация мавжуд эмас.
Мавзулар
Идентификаторлар
Иқтибослар ва манбалар
0 та иқтибос4 та фойдаланилган манба