Determination of the surface state density on the semiconductor-dielectric interface in the structures Al-SiO 2 -Si and Al-SiO 2 -n-Si at low temperature
G. GulyamovИ. Н. КаримовN. Yu. SharibaevУ. И. ЭркабоевNamangan pedagogical-engineering Institute, Namangan (Uzbekistan)
ABI
Аннотация
Аннотация мавжуд эмас.
Мавзулар
Иқтибослар ва манбалар
0 та иқтибос0 та фойдаланилган манба
Кўрсаткичлар — AkademScholar · Тез орада