Anton S. Orekhov

5 ta ish

Laboratory No. 2 of the USSR Academy of Sciences

1. Electron microscopy characterization of higher manganese silicide film structure on silicon

   Andrey Orekhov, T. S. Kamilov, Anton S. Orekhov +3

   MaqolaSemiconductor materials and interfacesNanotechnologies in Russia20167 iqtibos

   ABIABI:AkademIndex/2026.other.079735

2. Polymorphic Modifications of Chitosan

   Yulija G. Baklagina, V. V. Klechkovskaya, С. В. Кононова +4

   Maqola20182 iqtibos

   ABIABI:AkademIndex/2026.other.270526

3. Структура термоэлектрических пленок высшего силицида марганца на кремнии по данными электронной микроскопии

   Anton S. Orekhov, Т.С. Камилов, Б.В. Ибрагимова +2

   Maqola20172 iqtibos

   ABIABI:AkademIndex/2026.other.732833

4. Study of peculiarities of heat generation at the Mn 4 Si 7 -Si heterostructure interface

   D.M. Shukurova, T. S. Kamilov, B. Z. Sharipov +2

   MaqolaSemiconductor materials and interfacesUzbekiston Fizika Zhurnali20100 iqtibos

   ABIABI:AkademIndex/2010.article.000566

5. Selecting a target for obtaining films of higher manganese silicide using magnetron sputtering

   М. S. Lukasov, Н. А. Архарова, Anton S. Orekhov +2

   MaqolaOAOchiq kirishSemiconductor materials and interfacesКристаллография20240 iqtibos

   ABIABI:AkademIndex/2024.article.008195