Ushbu ish iqtibos qilgan ishlar

19 ta ish

Ish: Study of doping uniformity of a 200 kV ion implanter by RBS and sheet resistance measurements

1. Simulated annealing analysis of Rutherford backscattering data

   N.P. Barradas, C. Jeynes, R.P. Webb

   Maqola19975 iqtibos

   ABIABI:AkademIndex/2026.other.610859

2. SIMNRA, a simulation program for the analysis of NRA, RBS and ERDA

   M. Mayer

   Maqola19993 iqtibos

   ABIABI:AkademIndex/2026.other.364634

3. Fundamentals of surface and thin film analysis

   L. C. Feldman, James W. Mayer, F. Adams

   Maqola19892 iqtibos

   ABIABI:AkademIndex/2026.other.609020

4. Sarlavhasiz

   Boshqa1 iqtibos

   ABIABI:AkademIndex/2026.other.612237

5. Sarlavhasiz

   Boshqa1 iqtibos

   ABIABI:AkademIndex/2026.other.612238

6. Sarlavhasiz

   Boshqa1 iqtibos

   ABIABI:AkademIndex/2026.other.612239

7. Sarlavhasiz

   Boshqa1 iqtibos

   ABIABI:AkademIndex/2026.other.612240

8. Sarlavhasiz

   Boshqa1 iqtibos

   ABIABI:AkademIndex/2026.other.612241

9. Sarlavhasiz

   Boshqa1 iqtibos

   ABIABI:AkademIndex/2026.other.612242

10. Sarlavhasiz

    Boshqa1 iqtibos

    ABIABI:AkademIndex/2026.other.612243

11. Sarlavhasiz

    Boshqa1 iqtibos

    ABIABI:AkademIndex/2026.other.612244

12. Sarlavhasiz

    Boshqa1 iqtibos

    ABIABI:AkademIndex/2026.other.612245

13. Sarlavhasiz

    Boshqa1 iqtibos

    ABIABI:AkademIndex/2026.other.612246

14. Sarlavhasiz

    Boshqa1 iqtibos

    ABIABI:AkademIndex/2026.other.612247

15. Sarlavhasiz

    Boshqa1 iqtibos

    ABIABI:AkademIndex/2026.other.612248

16. Sarlavhasiz

    Boshqa1 iqtibos

    ABIABI:AkademIndex/2026.other.612249

17. Sarlavhasiz

    Boshqa1 iqtibos

    ABIABI:AkademIndex/2026.other.612250

18. Sarlavhasiz

    Boshqa1 iqtibos

    ABIABI:AkademIndex/2026.other.612251

19. Sarlavhasiz

    Boshqa1 iqtibos

    ABIABI:AkademIndex/2026.other.612252