← Назад к работе
Работы, на которые ссылается эта работа
Работ: 6
Работа: 4H-SiC pn Diode Grown by LPE Method for High-Power Applications
Crystal Defects as Source of Anomalous Forward Voltage Increase of 4H-SiC Diodes
Peder Bergman, H. Lendenmann, Per Åke Nilsson +2
Статья2001Цитирований: 2ABILong Term Operation of 4.5kV PiN and 2.5kV JBS Diodes
H. Lendenmann, Fanny Dahlquist, Nils Johansson +4
Статья2001Цитирований: 2ABILarge-band-gap SiC, III-V nitride, and II-VI ZnSe-based semiconductor device technologies
H. Morkoç̌, S. Strite, Guangjun Gao +3
Статья1994Цитирований: 2ABI