Перейти к основному содержанию
AkademIndex

Продукты

Для разработчиков

AkademBaseскороОткрытый API экосистемы
← Назад к работе

Работы, на которые ссылается эта работа

Работ: 15

Работа: Secondary ion emission from bismuth under bombardment with Bi− m and Au− m cluster ions

  1. Features of polyatomic ion emission under sputtering of a silicon single crystal by Au− cluster ions

    Sh.Dj. Akhunov, С. Н. Морозов, У. Х. Расулев

    СтатьяIon-surface interactions and analysisNuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B Beam Interactions with Materials and Atoms2003Цитирований: 13
    ABI

  2. Thermal spikes observed during the tantalum sputtering by gold cluster ions

    С. Н. Морозов, У. Х. Расулев

    СтатьяIon-surface interactions and analysisTechnical Physics Letters2003Цитирований: 12
    ABI

  3. Comparative study of polyatomic secondary ion emission from silicon with <mml:math xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" altimg="si11.gif" overflow="scroll"><mml:mrow><mml:msubsup><mml:mrow><mml:mtext>Au</mml:mtext></mml:mrow><mml:mrow><mml:mi>m</mml:mi></mml:mrow><mml:mrow><mml:mo>-</mml:mo></mml:mrow></mml:msubsup></mml:mrow></mml:math>, <mml:math xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" altimg="si12.gif" overflow="scroll"><mml:mrow><mml:msubsup><mml:mrow><mml:mtext>Si</mml:mtext></mml:mrow><mml:mrow><mml:mi>m</mml:mi></mml:mrow><mml:mrow><mml:mo>-</mml:mo></mml:mrow></mml:msubsup></mml:mrow></mml:math> and <mml:math xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" altimg="si13.gif" overflow="scroll"><mml:mrow><mml:msubsup><mml:mrow><mml:mtext>C</mml:mtext></mml:mrow><mml:mrow><mml:mi>m</mml:mi></mml:mrow><mml:mrow><mml:mo>-</mml:mo></mml:mrow></mml:msubsup></mml:mrow></mml:math> projectiles

    С. Н. Морозов, У. Х. Расулев

    СтатьяIon-surface interactions and analysisNuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B Beam Interactions with Materials and Atoms2006Цитирований: 11
    ABI

  4. Non-additive effects in secondary-ion emission from V, Nb and Ta under gold-cluster bombardment

    С. Н. Морозов, У. Х. Расулев

    СтатьяIon-surface interactions and analysisApplied Surface Science2004Цитирований: 11
    ABI

  5. High non-additive sputtering of silicon as large positive cluster ions under polyatomic ion bombardment

    S.F. Belykh, У. Х. Расулев, A.V. Samartsev +2

    СтатьяIon-surface interactions and analysisVacuum2000Цитирований: 9
    ABI

  6. Non-linear effects in Ta sputtering by Au− ions

    С. Н. Морозов, У. Х. Расулев

    СтатьяIon-surface interactions and analysisNuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B Beam Interactions with Materials and Atoms2003Цитирований: 6
    ABI

  7. Generation of large indium clusters by sputtering

    Christian Staudt, A. Wucher

    Статья2002Цитирований: 6
    ABI

  8. The Magic of Cluster SIMS

    Nicholas Winograd

    Статья2005Цитирований: 5
    ABI

  9. ToF-SIMS : surface analysis by mass spectrometry

    John C. Vickerman, D. Briggs

    Книга2001Цитирований: 5
    ABI

  10. Application of atomic and molecular primary ions for TOF–SIMS analysis of additive containing polymer surfaces

    D. Stapel, A. Benninghoven

    Статья2001Цитирований: 5
    ABI

  11. Cluster impacts on solids

    D. Jacquet, Y. Le Beyec

    Статья2002Цитирований: 4
    ABI

  12. A C<sub>60</sub> Primary Ion Beam System for Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry:  Its Development and Secondary Ion Yield Characteristics

    Daniel E. Weibel, Steve Wong, Nicholas P. Lockyer +3

    Статья2003Цитирований: 3
    ABI

  13. Depth Profiling of 4-Acetamindophenol-Doped Poly(lactic acid) Films Using Cluster Secondary Ion Mass Spectrometry

    Christine M. Mahoney, Sonya Roberson, Greg Gillen

    Статья2004Цитирований: 3
    ABI

  14. Cluster primary ion bombardment of organic materials

    Felix Kollmer

    Статья2004Цитирований: 2
    ABI

  15. Cluster primary ion bombardment of organic materials

    Felix Kollmer

    Статья2004Цитирований: 2
    ABI