Перейти к основному содержанию
AkademIndex

Продукты

Для разработчиков

AkademBaseОткрытый API экосистемы
← Назад к работе

Работы, на которые ссылается эта работа

Работ: 12

Работа: Investigation of Defect Formation in Silicon Doped with Silver and Gadolinium Impurities by Raman Scattering Spectroscopy

  1. Determining the material structure of microcrystalline silicon from Raman spectra

    C. Smit, R.A.C.M.M. van Swaaij, H. Donker +3

    Статья2003Цитирований: 4
    ABI
  2. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1
    ABI
  3. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1
    ABI
  4. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1
    ABI
  5. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1
    ABI
  6. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1
    ABI
  7. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1
    ABI
  8. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1
    ABI
  9. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1
    ABI
  10. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1
    ABI