← Назад к работе
Работы, на которые ссылается эта работа
Работ: 12
Работа: Investigation of Defect Formation in Silicon Doped with Silver and Gadolinium Impurities by Raman Scattering Spectroscopy
Determining the material structure of microcrystalline silicon from Raman spectra
C. Smit, R.A.C.M.M. van Swaaij, H. Donker +3
Статья2003Цитирований: 4ABI