← Назад к работе
Работы, на которые ссылается эта работа
Работ: 19
Работа: Defect Formation on the Surface of ZnO Using Low-Energy Electrons
Kinetics of aggregations of F 2, F 3, X, and colloid centers in LiF/Si(111) films upon low-temperature annealing
Utkirjon Sharopov, Б.Г. Атабаев, R. Djabberganov +1
СтатьяElectron and X-Ray Spectroscopy TechniquesJournal of Surface Investigation X-ray Synchrotron and Neutron Techniques2013Цитирований: 11ABIElectron beam charging of insulators with surface layer and leakage currents
N. Cornet, D. Goeuriot, C. Guerret-Piécourt +4
Статья2008Цитирований: 4ABIStability of ionically bonded surfaces in ionizing environments
M. L. Knotek, Peter J. Feibelman
Статья1979Цитирований: 2ABIElectron-stimulated desorption of negative O− ions from the oxidized O/Ru surface
N. D. Potekhina, С. М. Соловьев
Статья2010Цитирований: 2ABI