← Назад к работе
Работы, на которые ссылается эта работа
Работ: 17
Работа: Research of the Impact of Silicon Doping with Holmium on its Structure and Properties Using Raman Scattering Spectroscopy Methods
Raman spectroscopic study of microcrystalline silica
Kathleen J. Kingma, Russell J. Hemley
Статья1994Цитирований: 6ABIRaman spectroscopic investigation of irreversibly compacted vitreous silica
G. E. Walrafen, Y. C. Chu, M. S. Hokmabadi
Статья1990Цитирований: 5ABIRaman scattering from hydrogenated microcrystalline and amorphous silicon
Статья1982Цитирований: 4ABIElectrophysical properties of silicon doped with lutetium
Sh.Kh. Daliev, Sharifa B. Utamuradova
Статья2024Цитирований: 4ABIRaman Spectra of Amorphous Si and Related Tetrahedrally Bonded Semiconductors
J.E. Smith, M. H. Brodsky, B. L. Crowder +2
Статья1971Цитирований: 3ABI