Перейти к основному содержанию
AkademIndex

Продукты

Для разработчиков

AkademBaseОткрытый API экосистемы
← Назад к работе

Работы, цитирующие эту работу

Работ: 1

  1. Contribution to the Physical Modelling of Single Charged Defects Causing the Random Telegraph Noise in Junctionless FinFET

    A. É. Atamuratov, M. M. Khalilloev, Ahmed Yusupov +3

    СтатьяSemiconductor materials and devicesApplied Sciences2020Цитирований: 2
    ABI