Capacitance transient spectroscopy of radiation defects on the interface Si-SiO 2 of silcon MIS-structures
Shakhrukh Kh. DalievSharifa B. UtamuradovaKh.S. DalievNational University of Uzbekistan, TAshkent, Uzbekistan
2004en
ABI
Аннотация
Аннотация отсутствует.
Темы
Цитирования и источники
Цитирований: 0Использованных источников: 0
Показатели — AkademScholar · Скоро