Перейти к основному содержанию
AkademIndex

Продукты

Для разработчиков

AkademBaseскороОткрытый API экосистемы
Латиница
← Назад к работе

Работы, на которые ссылается эта работа

Работ: 14

Работа: Cluster projectile ions used for the SIMS analysis of silicon

  1. Features of polyatomic ion emission under sputtering of a silicon single crystal by Au− cluster ions

    Sh.Dj. Akhunov, С. Н. Морозов, У. Х. Расулев

    СтатьяIon-surface interactions and analysisNuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B Beam Interactions with Materials and Atoms2003Цитирований: 13
    ABI

  2. Thermal spikes observed during the tantalum sputtering by gold cluster ions

    С. Н. Морозов, У. Х. Расулев

    СтатьяIon-surface interactions and analysisTechnical Physics Letters2003Цитирований: 12
    ABI

  3. Comparative study of polyatomic secondary ion emission from silicon with <mml:math xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" altimg="si11.gif" overflow="scroll"><mml:mrow><mml:msubsup><mml:mrow><mml:mtext>Au</mml:mtext></mml:mrow><mml:mrow><mml:mi>m</mml:mi></mml:mrow><mml:mrow><mml:mo>-</mml:mo></mml:mrow></mml:msubsup></mml:mrow></mml:math>, <mml:math xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" altimg="si12.gif" overflow="scroll"><mml:mrow><mml:msubsup><mml:mrow><mml:mtext>Si</mml:mtext></mml:mrow><mml:mrow><mml:mi>m</mml:mi></mml:mrow><mml:mrow><mml:mo>-</mml:mo></mml:mrow></mml:msubsup></mml:mrow></mml:math> and <mml:math xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" altimg="si13.gif" overflow="scroll"><mml:mrow><mml:msubsup><mml:mrow><mml:mtext>C</mml:mtext></mml:mrow><mml:mrow><mml:mi>m</mml:mi></mml:mrow><mml:mrow><mml:mo>-</mml:mo></mml:mrow></mml:msubsup></mml:mrow></mml:math> projectiles

    С. Н. Морозов, У. Х. Расулев

    СтатьяIon-surface interactions and analysisNuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B Beam Interactions with Materials and Atoms2006Цитирований: 11
    ABI

  4. High non-additive sputtering of silicon as large positive cluster ions under polyatomic ion bombardment

    S.F. Belykh, У. Х. Расулев, A.V. Samartsev +2

    СтатьяIon-surface interactions and analysisVacuum2000Цитирований: 9
    ABI

  5. Comparative study of kinetic energy spectra and mass distributions of Ta+ ions sputtered from tantalum by atomic and molecular ion bombardment

    S.F. Belykh, У. Х. Расулев, A.V. Samartsev +1

    СтатьяIon-surface interactions and analysisNuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B Beam Interactions with Materials and Atoms1998Цитирований: 8
    ABI

  6. Cluster impacts at keV and MeV energies: Secondary emission phenomena

    Y. Le Beyec

    Статья1998Цитирований: 7
    ABI

  7. Secondary ion emission from arachidic acid LB-layers under Ar+, Xe+, Ga+ and SF5+ primary ion bombardment

    D. Stapel, O. Brox, A. Benninghoven

    Статья1999Цитирований: 5
    ABI

  8. Enhanced secondary-ion emission under gold-cluster bombardment with energies from keV to MeV per atom

    Alain Brunelle, S. Della‐Negra, J. Depauw +5

    Статья2001Цитирований: 5
    ABI

  9. Application of atomic and molecular primary ions for TOF–SIMS analysis of additive containing polymer surfaces

    D. Stapel, A. Benninghoven

    Статья2001Цитирований: 5
    ABI

  10. Sputtering of large size clusters from solids bombarded by high energy cluster ions and fullerenes

    K. Baudin, Alain Brunelle, S. Della‐Negra +6

    Статья1996Цитирований: 4
    ABI

  11. Surface Mass Spectrometry at the Submicrometer Scale

    С. В. Верхотуров, E. A. Schweikert, Nabil Rizkalla

    Статья2002Цитирований: 2
    ABI

  12. Teoriya raspyleniya

    G. Falcone

    Статья1992Цитирований: 2
    ABI

  13. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1
    ABI

  14. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1
    ABI