Перейти к основному содержанию
AkademIndex

Продукты

Для разработчиков

AkademBaseскороОткрытый API экосистемы
Латиница
Русский
← Назад к работе

Работы, на которые ссылается эта работа

Работ: 16

Работа: Influence of Implantation of Ions Ba<sup>+</sup> on the Composition and Electronic Structure of Silicate Glasses

  1. Conduction Mechanism in RuO2-Based Thick Films

    К. Flachbart, V. Pavl�k, N. Toma?ovi?ov� +4

    Статья1998Цитирований: 8
    ABI
  2. Electrical conduction in thick film resistors

    Osamu Abe, Yoshiaki Taketa

    Статья1991Цитирований: 7
    ABI
  3. Ruthenium clusters in lead-borosilicate glass in thick film resistors

    Kenji Adachi, Sadahiro lida, Kazuhide Hayashi

    Статья1994Цитирований: 6
    ABI
  4. EVOLUTION OF CONDUCTION MECHANISM IN THICK FILM RESISTORS.

    K.V.V. Murthy

    Статья2019Цитирований: 5
    ABI
  5. New Insights into Physical Science Vol. 4

    Kun-Lin Lin, Abdullah M. Al-Shaalan, Zhang Jihai +5

    Книга2020Цитирований: 5
    ABI
  6. An explanation of thermal behaviour of thick film strain gauges

    Yulan Zheng, John Atkinson, Russell Sion

    Статья2003Цитирований: 4
    ABI
  7. Effect of Glass Composition on the Electrical Properties of Thick‐Film Resistors

    Kenji Adachi, Hiroko Kuno

    Статья2000Цитирований: 3
    ABI
  8. Ohmic Contact Formation to PEDOT-PSS Films Using Graphite-Clay

    S Bindu, M. Suresh

    Статья2015Цитирований: 3
    ABI
  9. Semiconductors produced by doped oxide-glasses with Ir, Pd, Rh or Ru

    Carl C. Sartain, W.D. Ryden, A. W. Lawson

    Статья1970Цитирований: 2
    ABI
  10. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1
    ABI