Работы, цитирующие эту работу

Работ: 3

Работа: Solid State Imaging

1. Determination of the density of surface states at the semiconductor-insulator interface in a metal-insulator-semiconductor structure

   G. Gulyamov, N. Yu. Sharibaev

   СтатьяSurface and Thin Film PhenomenaSemiconductors2011Цитирований: 10

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.218240

2. Mn4Si7-Si〈Mn〉-Mn4Si7 and Mn4Si7-Si〈Mn〉-M photodiodes

   Д. М. Шукурова, Andrey Orekhov, B. Z. Sharipov +2

   СтатьяSemiconductor materials and interfacesTechnical Physics2011Цитирований: 4

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2011.article.000139

3. Photoconduction amplification and quenching in the Mn4Si7-Si〈Mn〉-Mn4Si7 and Mn4Si7-Si〈Mn〉-M heterostructures

   T. S. Kamilov, I. V. Ernst, A. Yu. Samunin

   СтатьяSemiconductor materials and interfacesTechnical Physics2014Цитирований: 2

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.199247