Работы, цитирующие эту работу

Работ: 2

Работа: Interpretation of surface and bulk effects using the pulsed MIS capacitor

1. Minority-Carrier Generation at the Interface between Silicon and Lead Borosilicate Glass

   П. Б. Парчинский, С. И. Власов

   СтатьяSemiconductor materials and interfacesRussian Microelectronics2001Цитирований: 1

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.623985

2. The effect of ultrasonic treatment on the generation characteristics of a Si-SiO2 interface

   П. Б. Парчинский, С. И. Власов, Л. Г. Лигай +1

   СтатьяSilicon and Solar Cell TechnologiesTechnical Physics Letters2003Цитирований: 0

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2003.article.000158