Работы, на которые ссылается эта работа

Работ: 17

Работа: Electrophysical Properties of Nanofilms Produced by Magnetron Sputtering Method

1. Formation of n-type CoSi monosilicide film which can be used in instrumentation

   I. R. Bekpulatov, Gunel Imanova, T. S. Kamilov +2

   СтатьяSemiconductor materials and interfacesInternational Journal of Modern Physics B2022Цитирований: 22

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2022.article.000132

2. Effect of Deposition of Submonolayer Cs Coatings on the Density of Electronic States and Energy Band Parameters of CoSi2/Si(111)

   Б. Е. Умирзаков, I. R. Bekpulatov, I. Kh. Turapov +1

   СтатьяSemiconductor materials and interfacesJournal of Nano- and Electronic Physics2022Цитирований: 13

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.095303

3. Formation of Mn4Si7/Si(111), CrSi2/Si(111), and CoSi2/Si(111) Thin Film and Evaluation of Their Optically Direct and Indirect Band Gap

   K.T. Dovranov, Muradulla Normuradov, Kh.T. Davranov +1

   СтатьяSemiconductor materials and interfacesUkrainian Journal of Physics2024Цитирований: 6

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2024.article.000848

4. Peculiarities of BaTiO₃ in electronic and X-Ray analysis

   M.T. Normuradov, Ш. Т. Хожиев, L.B. Akhmedova +3

   СтатьяSolid-state spectroscopy and crystallographyE3S Web of Conferences2023Цитирований: 6

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.264916

5. Development of Technology for Obtaining Nanosized Heterostructured Films by Ion-Plasma Deposition

   Muradulla Normuradov, Ш. Т. Хожиев, K.T. Dovranov +3

   СтатьяAdvanced Materials and Semiconductor TechnologiesUkrainian Journal of Physics2023Цитирований: 5

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.264917

6. Structural, electrical, and thermoelectric properties of CrSi 2 thin films

   Makram Abd El Qader, Rama Venkat, Ravhi S. Kumar +4

   Статья2013Цитирований: 4

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.253369

7. Direct optical band gap measurement in polycrystalline semiconductors: A critical look at the Tauc method

   Alex Dolgonos, Thomas O. Mason, Kenneth R. Poeppelmeier

   Статья2016Цитирований: 2

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.118437

8. Influence of Cr+ ion implantation and pulsed ion-beam annealing on the formation and optical properties of Si/CrSi2/Si(111) heterostructures

   N. G. Galkin, D. L. Goroshko, Konstantin N. Galkin +6

   Статья2010Цитирований: 2

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.562414

9. Group IV Direct Band Gap Photonics: Methods, Challenges, and Opportunities

   Richard Geiger, Thomas Zabel, H. Sigg

   Статья2015Цитирований: 2

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.698063

10. Infrared spectroscopic analysis of the Si/SiO2 interface structure of thermally oxidized silicon

    K. T. Queeney, M. K. Weldon, Jane P. Chang +4

    Статья2000Цитирований: 2

    ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.715947

11. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1

    ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.739027

12. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1

    ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.739028

13. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1

    ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.739029

14. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1

    ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.739030

15. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1

    ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.739031

16. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1

    ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.739032

17. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1

    ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.other.739033