Перейти к основному содержанию
← Назад к работе

Работы, на которые ссылается эта работа

Работ: 14

Работа: Structural Study of Copper Doped Single-Crystal Silicon by Diffusion

  1. Revised effective ionic radii and systematic studies of interatomic distances in halides and chalcogenides

    R. D. Shannon

    Статья1976Цитирований: 36
    ABI
  2. Study of the Inhomogeneities of Overcompensed Silicon Samples Doped with Manganese

    M. Sh. Isaev, U. T. Asatov, Makhmudjon A. Tulametov +2

    Статья2024Цитирований: 4
    ABI
  3. Electrical properties and recombination activity of copper, nickel and cobalt in silicon

    A. A. Istratov, E. R. Weber

    Статья1998Цитирований: 4
    ABI
  4. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1
    ABI
  5. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1
    ABI
  6. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1
    ABI
  7. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1
    ABI
  8. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1
    ABI
  9. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1
    ABI
  10. Без названия

    ДругоеЦитирований: 1
    ABI