Работы, цитирующие эту работу

Работ: 5

Работа: Iron contamination in silicon technology

1. A study of surface morphology of Fe/p-Si hybrid structure using atom force microscope

   Eshquvvat Arzikulov, Alisher D. Nurimov, S Q Axrorov +1

   СтатьяSurface Roughness and Optical MeasurementsJournal of Physics Conference Series2023Цитирований: 0

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2023.article.010502

2. Structure and Thermoelectric Properties of β-FeSi2 Doped with Cobalt

   F. Yu. Solomkin, Н. В. Шаренкова, Г. Н. Исаченко +5

   СтатьяSemiconductor materials and interfacesJournal of Surface Investigation X-ray Synchrotron and Neutron Techniques2024Цитирований: 0

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2024.article.008222

3. Structure and thermoelectric properties of β-FeSi<sub>2</sub> doped with cobalt

   F. Yu. Solomkin, Н. В. Шаренкова, Г. Н. Исаченко +5

   СтатьяSemiconductor materials and interfacesПоверхность Рентгеновские синхротронные и нейтронные исследования2024Цитирований: 0

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2024.article.009268

4. Impedance spectra of rhodium-doped silicon irradiated with alpha particles

   Sharifa B. Utamuradova, D.A. Rakhmanov, A.S. Doroshkevich +3

   СтатьяSilicon and Solar Cell TechnologiesRadiation Physics and Chemistry2026Цитирований: 0

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.article.010369

5. Raman Spectoroscopy of Silicon Single Crystals, Doped with Palladium and Irradiated by GammaRays

   Sharifa B. Utamuradova, Dilmurod A. Rakhmanov, A.S. Abiyev

   СтатьяSilicon and Solar Cell TechnologiesJournal of Ovonic Research2026Цитирований: 0

   ABIABI:AkademIndex/openalex/2026.article.010786